功率二极管:原理、特性与设计权衡
功率二极管核心原理详解|PN结、电特性与失效机理。
功率二极管核心原理详解|PN结、电特性与失效机理
1、什么是功率二极管
二极管最简单的半导体器件,只含一个PN结。利用PN结的单向导电性,完成整流,续流,钳位等功能。

我们最常用的功率二极管是硅管!首先明确,我们这一系列关注的是功率器件,其稳定性是最重要的,锗半导体二极管虽然压降低。随着温度的升高性能变化大。加之其漏电轴也比较大。 所以功率器件中我们应用到的和今天要讨论讨论的是硅管,而不是锗管。
2、二极管的电特性

二极管的电特性,如上图所示正向偏置二极管导通的时候,VF很低,流过的很大。在反向截止的时候,只要反向电压低于它的耐压,它的漏电流非常小,具有单向导电性。下图展示了二极管正向恢复特性和反向恢复特性。

3、PN结的电容

势垒电容(耗尽层电容Cj)产生原因:
- PN结加反向偏压时,耗尽层(空间电荷区)宽度随电压变化而改变,相当于一个平行板电容。随着反偏电压越大→耗尽层越宽→势垒电容会迅速越小。
扩散电容(Cd)产生原因:
- PN结正向偏置时,结区两侧大量载流子注入并存储,电荷储存量随电压变化产生电容效应, 随正向电流增加而快速增大。扩散电容会影响反向恢复时间,它限制了二极管的开关速度,也是开关损耗的来源之一。
4、电导调制现象
电导调制是PN结能有较低的管压降的主要功臣,其产生的原理是:PN结在导通状态时,大量的少子(P的空穴,N+区的电子电子或空穴)被注入到漂移区中。漂移区本来是一个电阻很大的轻掺杂N-区其载流子浓度大幅增加,下图中示意了这一过程:

- 这一现象的优点:可以显著降低导通压降,导通损耗低;
- 这一现象的缺点:反偏时,二极管要恢复截止时,存储在漂移区的大量少子需要复合→关断速度慢,导致托尾(tail current)产生关断损耗,和高di/dt。
5、二极管的温度特性

我们观察正向管压降,和反向漏电流随温度变化的曲线,可以发现:
相同电流的情况下,温度升高,管压降下降;反向漏电流随温度升高而升高,且升高的幅度较大
6、PN结的失效
PN结的失效有以下几种:
- 散热器不合适,安装不到位,都会引起结温过高, 发生热失效。
- 电流过大(段时间),超出规格较多,会产生过流失效。原因来不及散热 本质上是热失效。
- 反压过高会导致其击穿 - 雪崩击穿,齐纳击穿
7、PN结的偏置
PN结不同的偏置下其结的宽度是不一样的。

- 正偏置的PN结:空间电荷区内电场与外电场反向相反,而被消弱,空间电荷区变窄,电容变大,电流形成通路,同时产生功耗。
- 负偏置的PN结:外加电场左负右正,内电场与外加电场同向,空间电荷区宽度展宽,稳态只有很小的漏电流。
8、PN结的穿通
在前文中我们介绍了PN结所存在的雪崩击穿和齐纳击穿,下面我们介绍一下另外一种:穿通失效。
为同时满足正反两种偏置性能的要求,通常PN结一侧采用高浓度掺杂。空间电荷区向掺杂浓度低的一次(图中N区)展开,单边结轻掺杂区的电阻较高,所以所以设计时希望降低其宽度。

随着反向的升高,空间电荷区宽度加大。反向到达一定程度,空间电荷区与负极金属接触,PN结失效,电流急剧大。
穿通现象,是设计电路时其最高反向电压要留有余量的原因,同时在厂家设计二极管时,高耐压和高效率的需求是矛盾的,我们为了要实现高耐压,就一定要把这个N-型区做的厚一些,以防止穿通。后果就是,随着这个厚度的增加,整体的电阻增加,管压降上升,效率就会降低,所以最终我们到手的产品是设计折中的一个产物。
以上就是为大家系统讲解的,有关功率二极管的工作原理、电特性与动态行为、温度与失效机理,以及在耐压、效率和可靠性之间的设计权衡,希望对大家有所帮助。
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