CM2249 是北京士模微电子推出的16 通道同步采样数据采集系统(DAS) ,内置16 位 SAR ADC,支持 **±2.5V/±5V/±10V 双极性模拟输入 **,模拟输入 ESD HBM 达8000V,吞吐速率最高2×1MSPS,具备91.5dB SNR(500kSPS、2 倍过采样) 与 **-105dB THD的高性能;集成输入钳位保护、二阶抗混叠滤波器、2.5V 基准电压及缓冲,支持SPI/QSPI/ 并行等灵活接口与CRC 错误检查 **,采用5V 模拟电源2.3V~3.6V 数字接口电源,工作温度 **-40℃~125℃,封装为LQFP80(14mm×14mm)**,适用于数据采集、电力监控、多相电机系统等场景。

一、产品基础信息

  1. 定位与厂商:CM2249 是北京士模微电子推出的16 通道同步采样模拟数据采集系统(DAS) ,内置 16 位 SAR ADC,专为高精度、多通道数据采集场景设计。
  2. 文档历史:| 文档版本 | 修订日期 | 核心更新内容 || --- | --- | --- || V1.0 | 2023-11-20 | 初版发布,明确产品基础参数与功能 || V2.0 | 2024-04-24 | 基于量产数据修正电气规格、时序参数及曲线 || V2.1 | 2024-08-27 | 更新并行 / 串行模式时序参数值,优化接口时序精度 |

二、核心特征与电气规格

1. 核心特征

  • 输入特性:支持 **±2.5V、±5V、±10V 真双极性输入 **,16 个模拟通道(2 组 8 通道 ADC 同步采样);输入钳位保护可承受 ±19.5V 电压,1MΩ 高输入阻抗无需外部驱动放大器,简化设计。
  • 性能参数:16 位分辨率(无失码),最高2×1MSPS 吞吐速率;动态性能优异,±10V 范围下SNR 典型值 90dB(无过采样)、91.5dB(2 倍过采样)THD 低至 - 105dBSFDR 达 105dB,通道隔离度 - 109dB(≤5kHz)。
  • 集成模块:内置二阶抗混叠模拟滤波器(±10V 范围 - 3dB 带宽 39.2kHz)、2.5V 精密基准电压源(温度系数 5~15ppm/℃)、基准缓冲器、数字滤波器(最高 128 倍过采样)。
  • 接口与功耗:兼容 SPI/QSPI/MICROWIRE/DSP 及并行接口,支持CRC 错误检查;模拟电源 5V(4.75~5.25V)、数字接口电源 2.3~3.6V;运行功耗 180mW,待机 160mW,关断模式 IVCC 仅 1μA。
  • 环境适应性:工作温度 **-40℃~125℃,模拟输入 ESD HBM 达 8000V,采用LQFP80(14mm×14mm)封装 **。

2. 关键电气参数(默认测试条件)

参数类别 具体参数 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
动态性能 SNR 无过采样,±10V 88.2 90 - dB
OSR=2,±10V - 91.5 - dB
THD 无过采样,±10V - -105 -98 dB
SFDR ±10V - 105 - dB
模拟输入 全功率带宽 -3dB,±10V - 39.2 - kHz
输入电流 ±10V 范围 - ±10.7 - μA
输入阻抗 所有范围 - 1 -
基准电压 输出电压 内部基准 2.4995 2.5 2.5005 V
温度系数 TA=-40~85℃ - 5 15 ppm/℃
电源特性 IVCC 转换模式 - 36 40 mA
关断模式 - 1 - μA
IVDRIVE 转换模式 - 4 - μA

三、管脚配置与功能

CM2249 采用 LQFP80 封装,关键管脚功能如下(完整 80 管脚详见文档,此处列核心管脚):

管脚编号 名称 类型 核心功能说明
6/15/30/71 VCC PWR 模拟电源(4.75~5.25V),需 0.1μF+10μF 并联去耦至 AGND
49 VDRIVE PWR 数字接口电源(2.3~3.6V),需 0.1μF+10μF 去耦至 DGND
35 REFSEL DI 基准选择:高 = 内部 2.5V 基准,低 = 外部基准(接 REFINOUT)
36 RESET DI 复位:200~1100ns 低 = 部分复位,≥1250ns 低 = 完全复位(进关断)
38~39 HW_RNGSEL1~0 DI 模式 / 范围选择:00 = 软件模式,01 = 硬件 ±2.5V,10=±5V,11=±10V
40 SER/PAR DI 接口选择:低 = 并行,高 = 串行
61 WR/BURST DI 并行 = WR(写),硬件模式 = BURST(突发使能)
62 SCLK/RD DI 串行 = SCLK(时钟),并行 = RD(读)
63 CS DI 片选:低有效,并行 / 串行模式均需此信号使能
64~66 CHSEL0~2 DI 硬件模式通道选择:如 000=V0A+V0B,111=V7A+V7B
67 BUSY DO 转换指示:高 = 转换中,低 = 转换完成(数据可读)
68 CONVST DI 转换启动:上升沿启动选定通道对转换
56~57 DB11/SDOB、DB12/SDOA DI/O 串行模式:SDOA 输出 A 通道数据,SDOB 输出 B 通道数据

四、工作原理与运行模式

1. 核心模块工作原理

  • 模拟输入处理
    • 范围选择:硬件模式通过HW_RNGSEL1~0管脚配置(01=±2.5V、10=±5V、11=±10V);软件模式通过RANGE A1/A2(0x04/05)、RANGE B1/B2(0x06/07)寄存器单独配置每个通道范围。
    • 保护与滤波:每个通道内置钳位电路(防 ±19.5V 过压)和二阶抗混叠滤波器,±10V 范围 - 3dB 带宽 39.2kHz,抑制高频噪声。
  • 基准电压电路
    • 内部基准:REFSEL = 高时,REFINOUT 输出 2.5V 基准,需在 REFINOUT 与 REFINOUTGND 间接 10μF X5R 电容;外部基准:REFSEL = 低时,需向 REFINOUT 输入 2.5V 外部基准。
    • 基准缓冲:内置缓冲器将基准电压放大至 4V,REFCAP 与 REFGND 间需接 10μF 陶瓷电容(靠近管脚)。
  • 数字滤波器与过采样
    • 过采样率(OSR)由硬件OS0~OS2 管脚(完全复位锁存)或软件CONFIG 寄存器 OS 位(0x02 [4:2]) 配置,支持 0(无过采样)~128 倍过采样。
    • 过采样效果:OSR 越高,SNR 越好(如 128 倍过采样时 ±10V SNR 达 96.7dB),但 - 3dB 带宽降低、转换时间延长(8 倍过采样需 8 次采样)。

2. 运行模式与复位

  • 工作模式
    模式 配置方式 核心特点 适用场景
    硬件模式 HW_RNGSEL1~0≠00,管脚配置(CHSELx 选通道、OSx 选过采样) 无需访问寄存器,配置简单,功能受限 需快速部署、功能需求单一的场景
    软件模式 HW_RNGSEL1~0=00,寄存器配置(通道 / 范围 / 过采样均通过寄存器) 功能灵活,支持序列器、诊断通道、自定义通道组对 多通道自定义、需诊断或复杂序列采样的场景
  • 功耗模式
    • 转换模式:2 个 ADC 同时工作,典型功耗 180mW,用于持续采样。
    • 待机模式:ADC 低功耗,采样电路就绪,典型功耗 160mW,用于快速响应转换需求。
    • 关断模式:完全复位后进入,大部分电路关断,IVCC 仅 1μA,用于低功耗待机(退出需 12ms 等待)。
  • 复位机制
    复位类型 条件(RESET 低电平宽度) 效果 恢复等待时间
    部分复位 200ns~1100ns 初始化序列器、ADC、SPI,不改变寄存器 / 配置 50ns(至 CONVST)
    完全复位 ≥1250ns 复位至上电默认状态,进入关断模式,锁存硬件配置 12ms(至 CONVST)、3.7ms(至写操作)

五、数字接口与数据格式

1. 接口时序(默认 VDD=2.3~5.25V,TA=25℃)

  • 并行接口
    参数 描述 最小值 单位
    tRD_LOW RD 低电平宽度 30 ns
    tWR_LOW WR 低电平宽度 30 ns
    tDOUT_SETUP RD 下降沿后数据建立时间 - 27 ns
    tCONF_SETTLE WR 上升沿至 CONVST 上升沿 20 ns
  • 串行接口
    参数 描述(VDRIVE=3.3~3.6V) 最小值 最大值 单位
    fSCLK SCLK 频率 - 50 MHz
    tSCLK_HIGH SCLK 高电平宽度 9 - ns
    tSCLK_LOW SCLK 低电平宽度 8 - ns
    tDIN_SETUP SCLK 下降沿前数据建立时间 8 - ns
    tDOUT_HOLD SCLK 上升沿后数据保持时间 3.5 5 ns

2. 数据传输与格式

  • 并行接口
    • 读转换结果:BUSY 变低后,拉低 CS+RD,第一次读 A 通道数据,第二次读 B 通道数据;若使能 CRC,需额外读 16 位状态寄存器(含 CRC 值)。
    • 写寄存器:CS 拉低后,拉低 WR,DB15=1(写指令),DB14~9 = 寄存器地址,DB8~0 = 数据,WR 上升沿锁存。
  • 串行接口
    • 模式选择:SER1W=1(2 线模式,SDOA 输出 A 通道、SDOB 输出 B 通道);SER1W=0(1 线模式,SDOA 交替输出 A/B 通道)。
    • 读转换结果:CS 拉低后,SCLK 上升沿输出数据(MSB 优先),2 线模式需 16 个 SCLK,1 线模式需 32 个 SCLK。
  • 数据格式:采用二进制补码,不同输入范围对应 LSB 如下:| 输入范围 | +FS | -FS | LSB || --- | --- | --- | --- || ±10V | +10V | -10V | 305μV || ±5V | +5V | -5V | 152μV || ±2.5V | +2.5V | -2.5V | 76μV |

六、寄存器配置(软件模式)

软件模式下通过 6 个核心寄存器及 32 个堆栈寄存器配置功能,关键寄存器如下:

1. 核心控制寄存器(CONFIG,地址 0x02)

名称 位宽 复位值 核心功能
7 SDEF 1 N/A 自检测错误标志:1 = 测试失败,需复位
6 BURSTEN 1 0 突发模式使能:1=1 个 CONVST 完成所有序列通道转换
5 SEQEN 1 0 序列器使能:1 = 启用堆栈寄存器配置的通道序列
4~2 OS 3 0 过采样率:000 = 无过采样,111=128 倍过采样
1 STATUSEN 1 0 状态寄存器使能:1 = 转换后输出状态寄存器(含 CRC)
0 CRCEN 1 0 CRC 使能:1 = 转换结果附加 8 位 CRC 校验值

2. 通道与范围寄存器

  • CHANNEL(0x03):配置单次转换通道,CHB [7:4] 选 ADC B 通道,CHA [3:0] 选 ADC A 通道(支持 VCC/ALDO 诊断通道、自测功能 1011=A 输出 0xAAAA/B 输出 0x5555)。
  • RANGE A1(0x04):配置 A 组 0~3 通道范围,每 2 位控制 1 个通道(00=±10V、01=±2.5V、10=±5V、11=±10V)。
  • RANGE A2(0x05):配置 A 组 4~7 通道范围,配置方式同 RANGE A1。
  • RANGE B1(0x06)/B2(0x07):分别配置 B 组 0~3、4~7 通道范围,配置方式同 A 组。

3. 堆栈寄存器(0x20~0x3F,共 32 个)

用于配置序列器通道,每个寄存器对应 1 对同步转换通道:

名称 功能
8 SSREN 序列循环标志:1 = 转换后回到第 1 个堆栈寄存器,0 = 进入下一个
7~4 BSEL ADC B 通道选择(同 CHANNEL 寄存器 CHB)
3~0 ASEL ADC A 通道选择(同 CHANNEL 寄存器 CHA)
  • 复位后默认配置:顺序转换 V0A/V0B~V7A/V7B,剩余 24 个寄存器为 0x0000。

4. 状态寄存器(N/A,只读)

名称 功能
15~12 A[3:0] 前一次 ADC A 转换的通道号
11~8 B[3:0] 前一次 ADC B 转换的通道号
7~0 CRC[7:0] 前一次转换结果的 8 位 CRC 校验值(生成多项式 x⁸+x²+x+1)

七、应用与订购信息

1. 应用场景

  • 数据采集系统:多通道模拟信号同步采样,如工业传感器数据采集。
  • 电力线监控和保护系统:监测电压 / 电流信号,需高隔离度与抗干扰能力。
  • 多轴定位系统:同步采集各轴位置 / 速度信号,需低相位延迟(±10V 范围 5.8μs)。
  • 多相电机系统:监测电机各相电流 / 电压,需高动态范围(SFDR 105dB)。
  • 仪表和控制系统:高精度测量仪表,需低 INL(±0.8LSB)与高 SNR。

2. 典型连接要点

  • 电源去耦:VCC 和 VDRIVE 分别用 0.1μF(陶瓷)+10μF(电解)电容并联去耦,0.1μF 靠近管脚。
  • 模拟输入匹配:VxA(VxB)与 VxAGND(VxBGND)需串联相等电阻(如外接电阻时),避免阻抗失配引入误差。
  • 基准电路:REFCAP 与 REFGND 间 10μF 电容靠近 REFCAP 管脚;REFINOUT 与 REFINOUTGND 间接 10μF X5R 电容。

3. 封装与订购

型号 工作温度范围 封装类型 包装方式 包装数量
CM2249-QFPTR -40℃~125℃ LQFP80(14mm×14mm) Tray(托盘) 900

四、关键问题

问题 1:CM2249 的硬件模式与软件模式在配置方式、功能灵活性上有何核心差异?分别适用于哪些场景?

答案

CM2249 的硬件模式与软件模式在配置载体、功能范围上差异显著,具体对比及适用场景如下:

对比维度 硬件模式 软件模式
配置方式 完全依赖管脚电平配置(如 HW_RNGSELx 选范围、CHSELx 选通道、OSx 选过采样率),完全复位时锁存关键配置(如 REFSEL、SER/PAR) 通过寄存器写入配置(如 CONFIG 寄存器控过采样 / CRC、CHANNEL 寄存器选通道、RANGE 寄存器定范围),配置灵活且可动态修改
功能范围 功能受限:仅支持基础通道选择、固定过采样率,禁止访问寄存器,无法使用诊断通道(VCC/ALDO)、自定义序列器通道组对 功能全面:支持 32 个堆栈寄存器配置序列器(任意通道组对、最多 32 对)、诊断通道监测、接口自测(A 输出 0xAAAA/B 输出 0x5555)、CRC 动态使能
适用场景 适用于快速部署、功能需求单一的场景,如简单多通道同步采样(无需自定义通道顺序、固定输入范围),例:普通工业传感器数据采集 适用于复杂采样需求的场景,如多通道自定义序列采样(需跳过部分通道)、系统状态诊断(监测 VCC/ALDO)、高可靠性要求(需 CRC 校验),例:电力线监控系统(需诊断电源稳定性)

核心差异总结:硬件模式 “即插即用” 但灵活度低,软件模式需寄存器配置但功能覆盖全面。

问题 2:CM2249 的过采样功能如何配置?过采样率(OSR)对系统性能(SNR、带宽、转换时间)有何影响?

答案

1. 过采样功能配置方式

CM2249 的过采样率(OSR)通过硬件管脚或软件寄存器配置,具体如下:

  • 硬件模式:通过DB13/OS0、DB14/OS1、DB15/OS2 管脚配置,完全复位释放时锁存配置,配置对应关系:| OS2~OS0 | 过采样率(OSR) | OS2~OS0 | 过采样率(OSR) || --- | --- | --- | --- || 000 | 无过采样 | 100 | 16 倍 || 001 | 2 倍 | 101 | 32 倍 || 010 | 4 倍 | 110 | 64 倍 || 011 | 8 倍 | 111 | 128 倍 |
  • 软件模式:通过CONFIG 寄存器(0x02)的 OS 位(bit4~bit2) 配置,配置值与 OSR 对应关系同硬件模式,配置后立即生效(无需复位)。
2. 过采样率对系统性能的影响

过采样基于 “高频采样 + 数字滤波平均” 原理,OSR 越高,性能 trade-off 越明显:

性能指标 随 OSR 升高的变化趋势 具体示例(±10V 范围)
SNR(信噪比) 升高:OSR 每提高 4 倍,SNR 约提升 6dB(因噪声被平均抑制) OSR=0(无过采样)时 SNR=90dB;OSR=2 时 91.5dB;OSR=128 时 96.7dB
全功率带宽 降低:带宽与 OSR 成反比(采样频率固定时,OSR 越高,有效采样率越低) OSR=0 时带宽 39.2kHz;OSR=8 时带宽降至 39.2kHz/8≈4.9kHz
转换时间 延长:转换时间与 OSR 成正比(需完成 OSR 次采样并平均) 1MSPS 采样率下,OSR=0 时转换时间 1μs;OSR=8 时需 8μs(8 次采样)

核心结论:需根据需求平衡性能,如高精度低带宽场景(如温度测量)选高 OSR(64/128 倍),高速动态场景(如电机电流监测)选低 OSR(0/2 倍)。

问题 3:如何配置 CM2249 的 CRC 功能以确保转换结果可靠性?CRC 校验的原理与流程是什么?

答案

1. CRC 功能配置步骤

CM2249 的 CRC 功能支持硬件与软件两种配置方式,配置后转换结果会附加 8 位 CRC 校验值,具体步骤:

  • 硬件模式配置
    1. 芯片上电前或完全复位释放前,将DB5/CRCEN 管脚接高电平;
    2. 完全复位释放(RESET 拉高)后,CRC 功能被锁存使能,无需额外操作。
  • 软件模式配置
    1. CONFIG 寄存器(0x02)的 CRCEN 位(bit0)或 STATUSEN 位(bit1)写入 1(两者功能等效,写 1 即启用);
    2. 配置后,下一次转换开始时 CRC 功能生效,无需复位。
2. CRC 校验原理与流程
  • 校验原理:采用 8 位 CRC,生成多项式为x⁸+x²+x+1,通过对转换结果(A 通道 + B 通道)进行多项式运算,生成唯一 CRC 值,用于验证数据传输是否存在错误。
  • 校验流程
    1. CRC 生成
      • 普通模式:每次转换后,先对 A 通道数据运算(初始 CRC=0),再对 B 通道数据运算,得到最终 CRC 值(存于状态寄存器 bit7~bit0);
      • 突发序列器模式:对所有序列通道的 A/B 数据依次运算(前一次 CRC 结果作为下一次初始值),序列结束后生成最终 CRC 值。
    2. CRC 读取与验证
      • 并行接口:转换完成后,先读 A/B 通道数据,再读 16 位状态寄存器(低 8 位为 CRC 值);
      • 串行接口:2 线模式下,SDOA 输出 A 通道、SDOB 输出 B 通道,最后输出 16 位状态寄存器;1 线模式下,SDOA 交替输出 A/B 通道,最后输出状态寄存器;
      • 用户验证:使用相同生成多项式(x⁸+x²+x+1)对读取的 A/B 数据重新运算,若结果与 CRC 值一致,说明数据可靠。
3. 关键注意事项
  • 硬件模式下,CRCEN 配置后需完全复位才能修改;软件模式下可通过改写 CONFIG 寄存器动态开关 CRC。
  • 使能 CRC 后,需额外读取 16 位状态寄存器,因此数据读取周期会增加(并行接口多 1 次读操作,串行接口多 16 个 SCLK)。

Logo

智能硬件社区聚焦AI智能硬件技术生态,汇聚嵌入式AI、物联网硬件开发者,打造交流分享平台,同步全国赛事资讯、开展 OPC 核心人才招募,助力技术落地与开发者成长。

更多推荐