士模微CM2249:完美替代AD7616,ADS8686;时序完全兼容;国产性能最好;通道间信号无泄漏(通过AQKK认证,国资委白名单)
CM2249是北京士模微电子推出的16通道同步采样数据采集系统(DAS),内置16位SARADC,支持±2.5V/±5V/±10V双极性输入,吞吐速率最高2×1MSPS,具备91.5dB SNR和-105dB THD的高性能。该芯片集成输入钳位保护、抗混叠滤波器、2.5V基准电压及缓冲器,支持SPI/QSPI/并行接口与CRC校验,采用LQFP80封装(14mm×14mm),工作温度-40℃~12
CM2249 是北京士模微电子推出的16 通道同步采样数据采集系统(DAS) ,内置16 位 SAR ADC,支持 **±2.5V/±5V/±10V 双极性模拟输入 **,模拟输入 ESD HBM 达8000V,吞吐速率最高2×1MSPS,具备91.5dB SNR(500kSPS、2 倍过采样) 与 **-105dB THD的高性能;集成输入钳位保护、二阶抗混叠滤波器、2.5V 基准电压及缓冲,支持SPI/QSPI/ 并行等灵活接口与CRC 错误检查 **,采用5V 模拟电源与2.3V~3.6V 数字接口电源,工作温度 **-40℃~125℃,封装为LQFP80(14mm×14mm)**,适用于数据采集、电力监控、多相电机系统等场景。
一、产品基础信息
- 定位与厂商:CM2249 是北京士模微电子推出的16 通道同步采样模拟数据采集系统(DAS) ,内置 16 位 SAR ADC,专为高精度、多通道数据采集场景设计。
- 文档历史:| 文档版本 | 修订日期 | 核心更新内容 || --- | --- | --- || V1.0 | 2023-11-20 | 初版发布,明确产品基础参数与功能 || V2.0 | 2024-04-24 | 基于量产数据修正电气规格、时序参数及曲线 || V2.1 | 2024-08-27 | 更新并行 / 串行模式时序参数值,优化接口时序精度 |
二、核心特征与电气规格
1. 核心特征
- 输入特性:支持 **±2.5V、±5V、±10V 真双极性输入 **,16 个模拟通道(2 组 8 通道 ADC 同步采样);输入钳位保护可承受 ±19.5V 电压,1MΩ 高输入阻抗无需外部驱动放大器,简化设计。
- 性能参数:16 位分辨率(无失码),最高2×1MSPS 吞吐速率;动态性能优异,±10V 范围下SNR 典型值 90dB(无过采样)、91.5dB(2 倍过采样),THD 低至 - 105dB,SFDR 达 105dB,通道隔离度 - 109dB(≤5kHz)。
- 集成模块:内置二阶抗混叠模拟滤波器(±10V 范围 - 3dB 带宽 39.2kHz)、2.5V 精密基准电压源(温度系数 5~15ppm/℃)、基准缓冲器、数字滤波器(最高 128 倍过采样)。
- 接口与功耗:兼容 SPI/QSPI/MICROWIRE/DSP 及并行接口,支持CRC 错误检查;模拟电源 5V(4.75~5.25V)、数字接口电源 2.3~3.6V;运行功耗 180mW,待机 160mW,关断模式 IVCC 仅 1μA。
- 环境适应性:工作温度 **-40℃~125℃,模拟输入 ESD HBM 达 8000V,采用LQFP80(14mm×14mm)封装 **。
2. 关键电气参数(默认测试条件)
| 参数类别 | 具体参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 动态性能 | SNR | 无过采样,±10V | 88.2 | 90 | - | dB |
| OSR=2,±10V | - | 91.5 | - | dB | ||
| THD | 无过采样,±10V | - | -105 | -98 | dB | |
| SFDR | ±10V | - | 105 | - | dB | |
| 模拟输入 | 全功率带宽 | -3dB,±10V | - | 39.2 | - | kHz |
| 输入电流 | ±10V 范围 | - | ±10.7 | - | μA | |
| 输入阻抗 | 所有范围 | - | 1 | - | MΩ | |
| 基准电压 | 输出电压 | 内部基准 | 2.4995 | 2.5 | 2.5005 | V |
| 温度系数 | TA=-40~85℃ | - | 5 | 15 | ppm/℃ | |
| 电源特性 | IVCC | 转换模式 | - | 36 | 40 | mA |
| 关断模式 | - | 1 | - | μA | ||
| IVDRIVE | 转换模式 | - | 4 | - | μA |
三、管脚配置与功能
CM2249 采用 LQFP80 封装,关键管脚功能如下(完整 80 管脚详见文档,此处列核心管脚):
| 管脚编号 | 名称 | 类型 | 核心功能说明 |
|---|---|---|---|
| 6/15/30/71 | VCC | PWR | 模拟电源(4.75~5.25V),需 0.1μF+10μF 并联去耦至 AGND |
| 49 | VDRIVE | PWR | 数字接口电源(2.3~3.6V),需 0.1μF+10μF 去耦至 DGND |
| 35 | REFSEL | DI | 基准选择:高 = 内部 2.5V 基准,低 = 外部基准(接 REFINOUT) |
| 36 | RESET | DI | 复位:200~1100ns 低 = 部分复位,≥1250ns 低 = 完全复位(进关断) |
| 38~39 | HW_RNGSEL1~0 | DI | 模式 / 范围选择:00 = 软件模式,01 = 硬件 ±2.5V,10=±5V,11=±10V |
| 40 | SER/PAR | DI | 接口选择:低 = 并行,高 = 串行 |
| 61 | WR/BURST | DI | 并行 = WR(写),硬件模式 = BURST(突发使能) |
| 62 | SCLK/RD | DI | 串行 = SCLK(时钟),并行 = RD(读) |
| 63 | CS | DI | 片选:低有效,并行 / 串行模式均需此信号使能 |
| 64~66 | CHSEL0~2 | DI | 硬件模式通道选择:如 000=V0A+V0B,111=V7A+V7B |
| 67 | BUSY | DO | 转换指示:高 = 转换中,低 = 转换完成(数据可读) |
| 68 | CONVST | DI | 转换启动:上升沿启动选定通道对转换 |
| 56~57 | DB11/SDOB、DB12/SDOA | DI/O | 串行模式:SDOA 输出 A 通道数据,SDOB 输出 B 通道数据 |
四、工作原理与运行模式
1. 核心模块工作原理
- 模拟输入处理:
- 范围选择:硬件模式通过HW_RNGSEL1~0管脚配置(01=±2.5V、10=±5V、11=±10V);软件模式通过RANGE A1/A2(0x04/05)、RANGE B1/B2(0x06/07)寄存器单独配置每个通道范围。
- 保护与滤波:每个通道内置钳位电路(防 ±19.5V 过压)和二阶抗混叠滤波器,±10V 范围 - 3dB 带宽 39.2kHz,抑制高频噪声。
- 基准电压电路:
- 内部基准:REFSEL = 高时,REFINOUT 输出 2.5V 基准,需在 REFINOUT 与 REFINOUTGND 间接 10μF X5R 电容;外部基准:REFSEL = 低时,需向 REFINOUT 输入 2.5V 外部基准。
- 基准缓冲:内置缓冲器将基准电压放大至 4V,REFCAP 与 REFGND 间需接 10μF 陶瓷电容(靠近管脚)。
- 数字滤波器与过采样:
- 过采样率(OSR)由硬件OS0~OS2 管脚(完全复位锁存)或软件CONFIG 寄存器 OS 位(0x02 [4:2]) 配置,支持 0(无过采样)~128 倍过采样。
- 过采样效果:OSR 越高,SNR 越好(如 128 倍过采样时 ±10V SNR 达 96.7dB),但 - 3dB 带宽降低、转换时间延长(8 倍过采样需 8 次采样)。
2. 运行模式与复位
- 工作模式:
模式 配置方式 核心特点 适用场景 硬件模式 HW_RNGSEL1~0≠00,管脚配置(CHSELx 选通道、OSx 选过采样) 无需访问寄存器,配置简单,功能受限 需快速部署、功能需求单一的场景 软件模式 HW_RNGSEL1~0=00,寄存器配置(通道 / 范围 / 过采样均通过寄存器) 功能灵活,支持序列器、诊断通道、自定义通道组对 多通道自定义、需诊断或复杂序列采样的场景 - 功耗模式:
- 转换模式:2 个 ADC 同时工作,典型功耗 180mW,用于持续采样。
- 待机模式:ADC 低功耗,采样电路就绪,典型功耗 160mW,用于快速响应转换需求。
- 关断模式:完全复位后进入,大部分电路关断,IVCC 仅 1μA,用于低功耗待机(退出需 12ms 等待)。
- 复位机制:
复位类型 条件(RESET 低电平宽度) 效果 恢复等待时间 部分复位 200ns~1100ns 初始化序列器、ADC、SPI,不改变寄存器 / 配置 50ns(至 CONVST) 完全复位 ≥1250ns 复位至上电默认状态,进入关断模式,锁存硬件配置 12ms(至 CONVST)、3.7ms(至写操作)
五、数字接口与数据格式
1. 接口时序(默认 VDD=2.3~5.25V,TA=25℃)
- 并行接口:
参数 描述 最小值 单位 tRD_LOW RD 低电平宽度 30 ns tWR_LOW WR 低电平宽度 30 ns tDOUT_SETUP RD 下降沿后数据建立时间 - 27 ns tCONF_SETTLE WR 上升沿至 CONVST 上升沿 20 ns - 串行接口:
参数 描述(VDRIVE=3.3~3.6V) 最小值 最大值 单位 fSCLK SCLK 频率 - 50 MHz tSCLK_HIGH SCLK 高电平宽度 9 - ns tSCLK_LOW SCLK 低电平宽度 8 - ns tDIN_SETUP SCLK 下降沿前数据建立时间 8 - ns tDOUT_HOLD SCLK 上升沿后数据保持时间 3.5 5 ns
2. 数据传输与格式
- 并行接口:
- 读转换结果:BUSY 变低后,拉低 CS+RD,第一次读 A 通道数据,第二次读 B 通道数据;若使能 CRC,需额外读 16 位状态寄存器(含 CRC 值)。
- 写寄存器:CS 拉低后,拉低 WR,DB15=1(写指令),DB14~9 = 寄存器地址,DB8~0 = 数据,WR 上升沿锁存。
- 串行接口:
- 模式选择:SER1W=1(2 线模式,SDOA 输出 A 通道、SDOB 输出 B 通道);SER1W=0(1 线模式,SDOA 交替输出 A/B 通道)。
- 读转换结果:CS 拉低后,SCLK 上升沿输出数据(MSB 优先),2 线模式需 16 个 SCLK,1 线模式需 32 个 SCLK。
- 数据格式:采用二进制补码,不同输入范围对应 LSB 如下:| 输入范围 | +FS | -FS | LSB || --- | --- | --- | --- || ±10V | +10V | -10V | 305μV || ±5V | +5V | -5V | 152μV || ±2.5V | +2.5V | -2.5V | 76μV |
六、寄存器配置(软件模式)
软件模式下通过 6 个核心寄存器及 32 个堆栈寄存器配置功能,关键寄存器如下:
1. 核心控制寄存器(CONFIG,地址 0x02)
| 位 | 名称 | 位宽 | 复位值 | 核心功能 |
|---|---|---|---|---|
| 7 | SDEF | 1 | N/A | 自检测错误标志:1 = 测试失败,需复位 |
| 6 | BURSTEN | 1 | 0 | 突发模式使能:1=1 个 CONVST 完成所有序列通道转换 |
| 5 | SEQEN | 1 | 0 | 序列器使能:1 = 启用堆栈寄存器配置的通道序列 |
| 4~2 | OS | 3 | 0 | 过采样率:000 = 无过采样,111=128 倍过采样 |
| 1 | STATUSEN | 1 | 0 | 状态寄存器使能:1 = 转换后输出状态寄存器(含 CRC) |
| 0 | CRCEN | 1 | 0 | CRC 使能:1 = 转换结果附加 8 位 CRC 校验值 |
2. 通道与范围寄存器
- CHANNEL(0x03):配置单次转换通道,CHB [7:4] 选 ADC B 通道,CHA [3:0] 选 ADC A 通道(支持 VCC/ALDO 诊断通道、自测功能 1011=A 输出 0xAAAA/B 输出 0x5555)。
- RANGE A1(0x04):配置 A 组 0~3 通道范围,每 2 位控制 1 个通道(00=±10V、01=±2.5V、10=±5V、11=±10V)。
- RANGE A2(0x05):配置 A 组 4~7 通道范围,配置方式同 RANGE A1。
- RANGE B1(0x06)/B2(0x07):分别配置 B 组 0~3、4~7 通道范围,配置方式同 A 组。
3. 堆栈寄存器(0x20~0x3F,共 32 个)
用于配置序列器通道,每个寄存器对应 1 对同步转换通道:
| 位 | 名称 | 功能 |
|---|---|---|
| 8 | SSREN | 序列循环标志:1 = 转换后回到第 1 个堆栈寄存器,0 = 进入下一个 |
| 7~4 | BSEL | ADC B 通道选择(同 CHANNEL 寄存器 CHB) |
| 3~0 | ASEL | ADC A 通道选择(同 CHANNEL 寄存器 CHA) |
- 复位后默认配置:顺序转换 V0A/V0B~V7A/V7B,剩余 24 个寄存器为 0x0000。
4. 状态寄存器(N/A,只读)
| 位 | 名称 | 功能 |
|---|---|---|
| 15~12 | A[3:0] | 前一次 ADC A 转换的通道号 |
| 11~8 | B[3:0] | 前一次 ADC B 转换的通道号 |
| 7~0 | CRC[7:0] | 前一次转换结果的 8 位 CRC 校验值(生成多项式 x⁸+x²+x+1) |
七、应用与订购信息
1. 应用场景
- 数据采集系统:多通道模拟信号同步采样,如工业传感器数据采集。
- 电力线监控和保护系统:监测电压 / 电流信号,需高隔离度与抗干扰能力。
- 多轴定位系统:同步采集各轴位置 / 速度信号,需低相位延迟(±10V 范围 5.8μs)。
- 多相电机系统:监测电机各相电流 / 电压,需高动态范围(SFDR 105dB)。
- 仪表和控制系统:高精度测量仪表,需低 INL(±0.8LSB)与高 SNR。
2. 典型连接要点
- 电源去耦:VCC 和 VDRIVE 分别用 0.1μF(陶瓷)+10μF(电解)电容并联去耦,0.1μF 靠近管脚。
- 模拟输入匹配:VxA(VxB)与 VxAGND(VxBGND)需串联相等电阻(如外接电阻时),避免阻抗失配引入误差。
- 基准电路:REFCAP 与 REFGND 间 10μF 电容靠近 REFCAP 管脚;REFINOUT 与 REFINOUTGND 间接 10μF X5R 电容。
3. 封装与订购
| 型号 | 工作温度范围 | 封装类型 | 包装方式 | 包装数量 |
|---|---|---|---|---|
| CM2249-QFPTR | -40℃~125℃ | LQFP80(14mm×14mm) | Tray(托盘) | 900 |
四、关键问题
问题 1:CM2249 的硬件模式与软件模式在配置方式、功能灵活性上有何核心差异?分别适用于哪些场景?
答案
CM2249 的硬件模式与软件模式在配置载体、功能范围上差异显著,具体对比及适用场景如下:
| 对比维度 | 硬件模式 | 软件模式 |
|---|---|---|
| 配置方式 | 完全依赖管脚电平配置(如 HW_RNGSELx 选范围、CHSELx 选通道、OSx 选过采样率),完全复位时锁存关键配置(如 REFSEL、SER/PAR) | 通过寄存器写入配置(如 CONFIG 寄存器控过采样 / CRC、CHANNEL 寄存器选通道、RANGE 寄存器定范围),配置灵活且可动态修改 |
| 功能范围 | 功能受限:仅支持基础通道选择、固定过采样率,禁止访问寄存器,无法使用诊断通道(VCC/ALDO)、自定义序列器通道组对 | 功能全面:支持 32 个堆栈寄存器配置序列器(任意通道组对、最多 32 对)、诊断通道监测、接口自测(A 输出 0xAAAA/B 输出 0x5555)、CRC 动态使能 |
| 适用场景 | 适用于快速部署、功能需求单一的场景,如简单多通道同步采样(无需自定义通道顺序、固定输入范围),例:普通工业传感器数据采集 | 适用于复杂采样需求的场景,如多通道自定义序列采样(需跳过部分通道)、系统状态诊断(监测 VCC/ALDO)、高可靠性要求(需 CRC 校验),例:电力线监控系统(需诊断电源稳定性) |
核心差异总结:硬件模式 “即插即用” 但灵活度低,软件模式需寄存器配置但功能覆盖全面。
问题 2:CM2249 的过采样功能如何配置?过采样率(OSR)对系统性能(SNR、带宽、转换时间)有何影响?
答案
1. 过采样功能配置方式
CM2249 的过采样率(OSR)通过硬件管脚或软件寄存器配置,具体如下:
- 硬件模式:通过DB13/OS0、DB14/OS1、DB15/OS2 管脚配置,完全复位释放时锁存配置,配置对应关系:| OS2~OS0 | 过采样率(OSR) | OS2~OS0 | 过采样率(OSR) || --- | --- | --- | --- || 000 | 无过采样 | 100 | 16 倍 || 001 | 2 倍 | 101 | 32 倍 || 010 | 4 倍 | 110 | 64 倍 || 011 | 8 倍 | 111 | 128 倍 |
- 软件模式:通过CONFIG 寄存器(0x02)的 OS 位(bit4~bit2) 配置,配置值与 OSR 对应关系同硬件模式,配置后立即生效(无需复位)。
2. 过采样率对系统性能的影响
过采样基于 “高频采样 + 数字滤波平均” 原理,OSR 越高,性能 trade-off 越明显:
| 性能指标 | 随 OSR 升高的变化趋势 | 具体示例(±10V 范围) |
|---|---|---|
| SNR(信噪比) | 升高:OSR 每提高 4 倍,SNR 约提升 6dB(因噪声被平均抑制) | OSR=0(无过采样)时 SNR=90dB;OSR=2 时 91.5dB;OSR=128 时 96.7dB |
| 全功率带宽 | 降低:带宽与 OSR 成反比(采样频率固定时,OSR 越高,有效采样率越低) | OSR=0 时带宽 39.2kHz;OSR=8 时带宽降至 39.2kHz/8≈4.9kHz |
| 转换时间 | 延长:转换时间与 OSR 成正比(需完成 OSR 次采样并平均) | 1MSPS 采样率下,OSR=0 时转换时间 1μs;OSR=8 时需 8μs(8 次采样) |
核心结论:需根据需求平衡性能,如高精度低带宽场景(如温度测量)选高 OSR(64/128 倍),高速动态场景(如电机电流监测)选低 OSR(0/2 倍)。
问题 3:如何配置 CM2249 的 CRC 功能以确保转换结果可靠性?CRC 校验的原理与流程是什么?
答案
1. CRC 功能配置步骤
CM2249 的 CRC 功能支持硬件与软件两种配置方式,配置后转换结果会附加 8 位 CRC 校验值,具体步骤:
- 硬件模式配置:
- 芯片上电前或完全复位释放前,将DB5/CRCEN 管脚接高电平;
- 完全复位释放(RESET 拉高)后,CRC 功能被锁存使能,无需额外操作。
- 软件模式配置:
- 向CONFIG 寄存器(0x02)的 CRCEN 位(bit0)或 STATUSEN 位(bit1)写入 1(两者功能等效,写 1 即启用);
- 配置后,下一次转换开始时 CRC 功能生效,无需复位。
2. CRC 校验原理与流程
- 校验原理:采用 8 位 CRC,生成多项式为x⁸+x²+x+1,通过对转换结果(A 通道 + B 通道)进行多项式运算,生成唯一 CRC 值,用于验证数据传输是否存在错误。
- 校验流程:
- CRC 生成:
- 普通模式:每次转换后,先对 A 通道数据运算(初始 CRC=0),再对 B 通道数据运算,得到最终 CRC 值(存于状态寄存器 bit7~bit0);
- 突发序列器模式:对所有序列通道的 A/B 数据依次运算(前一次 CRC 结果作为下一次初始值),序列结束后生成最终 CRC 值。
- CRC 读取与验证:
- 并行接口:转换完成后,先读 A/B 通道数据,再读 16 位状态寄存器(低 8 位为 CRC 值);
- 串行接口:2 线模式下,SDOA 输出 A 通道、SDOB 输出 B 通道,最后输出 16 位状态寄存器;1 线模式下,SDOA 交替输出 A/B 通道,最后输出状态寄存器;
- 用户验证:使用相同生成多项式(x⁸+x²+x+1)对读取的 A/B 数据重新运算,若结果与 CRC 值一致,说明数据可靠。
- CRC 生成:
3. 关键注意事项
- 硬件模式下,CRCEN 配置后需完全复位才能修改;软件模式下可通过改写 CONFIG 寄存器动态开关 CRC。
- 使能 CRC 后,需额外读取 16 位状态寄存器,因此数据读取周期会增加(并行接口多 1 次读操作,串行接口多 16 个 SCLK)。

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