扫描测试步骤

    首先用扫描单元（scan cell）替换触发器（flip-flop）创建控制和观测点，将扫描触发器连接在一起形成扫描链，利用这些扫描链，生成符合条件的测试向量：1）在指定节点设置成指定值（控制）；2）传播结果使其可以被测量到（观测）。

扫描触发器/扫描单元

 当前的标准模型

     多路复用器（MUX）选择数据输入：D端用于正常模式（功能模式），scan in（SI）用于扫描模式。scan_enable（SE）选择工作模式。

基本扫描测试

 测试设置（Test setup）

    初始化设计，设置状态进入测试模式 （只有测试开始时需要）

 移入/移出数据（load/unload）-shift模式

    连续地移动数据进入扫描链，测试结果被移出

 捕获（capture）

    使用已知值（scan和PI）定义的激励，允许组合电路在功能模式下工作，测量输出（PO），把测试结果记录进扫描链；重复移入、移出（shift）/捕获（capture）直到测试完成。

    基本扫描测试包含以下事件：1）加载数据进入扫描链（需要很多个循环）；2）Force PI（primary input）;3）测量PO（primary output）；4）pulse capture clock；5）将scan cell的值移出，同时加载下一个向量。

    

 load：给扫描单元加载值

    1.force SE to "1"（scan enable）

    2.force SI（scan chain input pin）

    3.pulse shift clock

    4.重复步骤2和3直到所有scan cell都被加载值

    load过程演示（如下图）

  

    force normal primary inputs（func 端口给值），force SE to "0"（退出shift模式），现在内部所有pin/cell的值都可以被预测了。

force PI过程演示（如下图）

measure  primary output（PO）过程演示（如下图）

    measure "1"on Y。

pulse capture clock过程演示（如下图）

    将func inputs的值加载进扫描单元来观察电路状态。

load/unload示意图（如下图）

    在串行加载过程中，新的数据被加载移进扫描链中（shift in），之前的内部电路状态也被串行地移出来（shift out），扫描单元之前的内部状态（111）在scan out这里被测量。

总结

 控制

    给扫描链加载已知的值，把内部节点设置成已知状态；把primary input（PI，func输入端口）设置成已知的值。

 观测

    测量primary output（PO，func输出端口），与期望值比较；把扫描链的值移出，与已知的期望值比较。

 仿真通过/失败（pass/fail）

    如果期望值等于设计扫描测量值，测试通过；如果期望值不等于扫描测量值，测试失败。

参考

mentor：tessent  scan and ATPG学习手册