1.为什么mos管选型很重要?

     在电源、电机驱动、逆变器和机器人关节驱动器中,MOS管是最常见的功率开关器件。很多初学者(跟我一样)刚开始选MOS管时,第一眼只会两个参数:漏源极耐压值Vds和连续漏极电流Id。比如翻看datasheet手册时,看到Vds=100V、Id=100A,就认为这个mos管一定够用了,但是在实际工程中,MOS管能不能稳定工作,不能只看这两个因素,还需要考虑开关、导通损耗、热阻、封装、结温、成本等。

     本文将从硬件初学者的角度出发,介绍MOS管选型的基本思路,讲清楚导通损耗、开关损耗和结温的计算方法。

2.MOS管的基本作用

     在电源和电机驱动电路中,MOS管常常被当做“高速电子开关”使用。你可以理解为,它是一个由栅极控制的开关:栅极加适当电压,D-S导通;栅极电压撤掉时,D-S关断。下面是一些典型应用

应用场景 MOS 管作用
Buck 降压电源 高频开关
Boost 升压电源 主功率开关
反激电源 原边开关管
三相逆变桥 控制电机三相电流

3.MOS 管选型的核心参数

参数 中文含义 选型时怎么理解
(V_{DSS}) 漏源耐压 决定 MOS 管能承受多高母线电压
(I_D) 连续漏极电流 只能参考,不能直接按标称值使用
(R_{DS(on)}) 导通电阻 阻值越小导通损耗越低,一般手册会给出一个典型值和最大值,这是因为导通阻值会随温度而变化
(Q_g) 总栅极电荷 越大越难驱动,开关可能越慢;MOS管不是普通电源,它的G极像一个电容。每次开关,驱动芯片都要给栅极充放电,导致Qg越大,mos管越难驱动
(C_{iss}) 输入电容 影响栅极驱动速度,Ciss越大,栅极越难充电,开关就越慢,对驱动芯片要求越高
t_r/t_f 开通/关断时间 影响开关损耗和 EMI
R_{\theta JA} 结到环境热阻 决定 MOS 发热后温度升高多少
封装 器件外形与散热结构 影响散热、电流能力和 PCB 布局
体二极管/Qrr 反向恢复特性 电机驱动和同步整流中很重要

4.Vdss:耐压应该怎么选

VDSS是MOS管漏极源极之间最大的可承受电压,如果超过这个电压,MOS很可能发生击穿,无法使用,一下是经验表,仅供参考

系统母线 推荐 MOS 耐压
12V 系统 30V / 40V
24V 系统 40V / 60V
36V 系统 60V / 80V
48V 系统 80V / 100V
220VAC 整流后约 310VDC 600V / 650V

需要说明的是:选型时,不能仅仅考虑系统电压,还要考虑到运行时的电压尖峰、反电动势、振铃等。比如 48V 电机驱动,不能简单选 60V MOS,更常见是选 80V 或 100V。

5.为什么不能只看电流Id?

datasheet 中I_D往往是在特定条件下测得的,例如壳温 TC=25℃、理想散热条件等。
实际 PCB 上,MOS 管周围温度、铜皮面积、封装散热和风道都不同,所以标称 100A 的 MOS 管,并不代表在你的板子上就能长期跑 100A。一般会有不同条件下的I_D:Silicon limit,Package limit,Thermal limit

限制类型 含义
Silicon limit 硅芯片本体能承受的电流
Package limit 封装、引脚、键合结构能承受的电流
Thermal limit

发热和结温决定的实际电流

   工程上不要按 I_D直接判断 MOS 管够不够,而是应该计算损耗和结温。

6.损耗计算

    MOS损耗主要可以分为6大类:导通损耗、开关损耗、栅极驱动损耗、体二极管损耗、反向恢复损耗、输出电容损耗。这里仅仅介绍两个比较重要的损耗:导通损耗和开关损耗。

6.1导通损耗

       MOS 管导通后不是理想短路,而是相当于一个很小的电阻R_{ds(on))}
电流流过这个电阻,就会产生导通损耗。

 计算公式:

                                           ​P_{cond}=I_{rms}^2*R_{ds(on)}

但是这个等效阻值R_{ds(on))}并不是一成不变的,它会随着温度的升高而变大,因此在计算导通损耗时,往往会加上一个温度修正系数KT

P_{cond}=I_{rms}^2*R_{ds(on)}*K_{T}

K_{T}yi一般取1.2-1.8.

举例说明:

6.2.开关损耗计算

        MOS管在开通和关断瞬间,电压和电流会有一段重叠的时间。这段时间内,MOS 管既承受电压又流过电流,因此会产生开关损耗。

       公式:

P_{sw} = 1/2V_{DS}I_{D}(t_{r}+t_{f})f_{sw}

   公式中变量各个含义如下:

符号 含义
V_{DS} 开关时 MOS 承受的电压
I_D 开关瞬间电流
t_r 开通时间
t_f 关断时间
f_{sw}

开关频率

这里举一个例子:

  高频电源由于开关频率可以达到几百KHZ,甚至上MHZ,因此更关注开关损耗;而低压大电流的电机驱动通常导通损耗的占比更大,更关注导通损耗。

7.热阻、温升和结温计算

      上一节我们介绍了,MOS管的更种损耗,这种损耗最终都会变成热量,这就不得不考虑MOS管的工作温升了。热量从芯片内部传到封装,再传到PCB、散热片,最后到空气中。而这个散热路径上的阻力,就叫做热阻。热阻单位是:℃/W意思是:每产生1W的热量,温度会上升多少度。下面对MOS管datasheet里常见的热阻参数进行介绍

7.1R_{\theta JA}:结到环境热阻

       R_{\theta JA}其中J 是 Junction,表示结,也就是芯片内部。A 是 Ambient,表示环境。所以R_{\theta JA}表示热量从芯片内部传到周围空气的总热阻。

如果 MOS 管没有额外散热片,只是焊在 PCB 上,那么初步估算可以用:

2.R_{\theta JC};结到壳的热阻

R_{\theta JC},C是Case,外壳,表示热量从芯片内部传到器件外壳的热阻。这个参数通常比R_{\theta JA}小很多。例如:

参数 数值
R_{\theta JC} 1.5 ℃/W
R_{\theta JA} 50 ℃/W

为什么差这么多?

因为从芯片到外壳这段路径比较短,热比较容易传出去;但是从外壳到空气,中间还要经过 PCB、散热片、空气对流,这部分才是真正难散热的地方。

如果 MOS 管有散热片,就不能只看 R_{\theta JA},而应该看完整热路径:

参数 含义
(R_{\theta JC}) 结到壳热阻
(R_{\theta CS}) 壳到散热片热阻
(R_{\theta SA}) 散热片到环境热阻

例如某个MOS管热阻为:RθJA​=40∘C/W

参数 含义
(R_{\theta JC}) 结到壳热阻
(R_{\theta CS}) 壳到散热片热阻
(R_{\theta SA}) 散热片到环境热阻

如果它的损耗功率为2W,那么温升约为:

T_{j}=T_{A}+P_{loss}*R_{\theta JA}=40+2*40=120

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